近年來,以歐美為中心,為了環(huán)境保護而提高了對有害物質(zhì)的檢測標準,制定關(guān)于限制在電子電器設(shè)備中使用某些有害物質(zhì)指令(RoHS)和8大可溶性重金屬(EN71-3/ASTM-F963)指令等,對于環(huán)境及材料中重金屬的管制都有明文規(guī)定與共識。日本精工SII針對CdPbHgCrBr等有害重金屬分析,特別所設(shè)計了全新機型SEA
產(chǎn)品特色
1.SONY、Panasonic認可針對塑料及電子組件中有害重金屬檢測之X射線熒光分析儀 (符合Sony STM-0085快速檢測方法)
2.采用高靈敏度硅半導體偵測,無須液態(tài)氮
3.配備CCD監(jiān)視器
4.具備形狀、厚度、材質(zhì)補正功能(Seiko)
5.超低檢測下限的(Cd:1.9ppm;Pb: 0.9ppm)
6.可針對鹵素BrCl做快速分析
產(chǎn)品規(guī)格
測定元素 | 原子編號 13 (Al) ~ 92 (U) |
樣品形態(tài) | 固體,粉末,液體 |
X光管 | 小型空冷式X射線管球(Rh靶) |
管電壓: 15kV, 50kV 管電流: 1mA | |
檢測器 | Si半導體檢測器(無需液態(tài)氮) |
準直器 | |
樣品觀察 | 彩色CCD攝像頭 |
濾波器 | 4種模式自動切換 |
樣品室 | 370(W)*320(D)*155(H)mm |
X-ray Station | 筆記計算機或桌上型計算機 |
(OS; MS-windows XP) | |
打印機(選購) | 噴墨打印機 |
定性分析功能 | 能譜測定 |
自動辨別,圖譜比對 | |
定量分析功能 | 塊體FP法,標準曲線法 |
KLM標示表示,差異表示 | |
統(tǒng)計處理功能 | MS-EXCEL |
報告制作 | MS-WORD |
設(shè)置尺寸 | 900(W)*700(D)*460(H)mm(不含打印機) |
重量 | |
使用電源 | AC100~ 120V, 200 ~ 240V±10%, |
選購 | 有害物質(zhì)判定軟件 |
能譜匹配軟件(材料判定) | |
薄膜FP軟件 | |
薄膜標準曲線軟件 | |
外部驅(qū)動X-Y移動臺 | |
自動進樣器 |
熱門應(yīng)用領(lǐng)域:
1.滿足歐盟RoHS指令,以及各國針對電子電機產(chǎn)品中有有害物質(zhì)含量的快速檢測分析,例如CdPbHgCrBr等含量的快速分析。
2.針對目前IEC指令中之無鹵素含量要求標準,利用XRF可建立快速、非破壞的檢測方法,滿足廠商簡易的需求。
3.玩具中有害重金屬的檢測
4.分析電子產(chǎn)品電鍍層的厚度
5.各類五金電鍍件的鍍層厚度管控分析
6.金屬材料品質(zhì)控管:合金中主成份的快速分析。
7.貴金屬的分析鑒定:貴金屬金、鈀、鉑、銀等含量分析