XRF9能量色散X射線熒光分析儀
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| 產品介紹 |
| X射線熒光（XRF）分析技術是測定由初級X射線激發樣品時所產生的二次特征X射線（X射線熒光），它是一種非破壞性分析方法，可實現固體和液體樣品的多元素快速分析。XRF適合各類固體，液體樣品中主，次多元素同時測定，檢出限在mg/kg 量級范圍內，制樣方法簡單，現已廣泛應用于地質、材料、環境、冶金樣品的常規分析。XRF作為一種無損檢測技術，可以直接應用于現場、原位分析，在材料分析領域占有重要地位。 XRF9能量色散X射線熒光分析儀正是基于X射線熒光分析技術設計的一款新型X射線熒光光譜分析儀。可實現對樣品中所含元素快速，無損，準確的定性、定量分析。采用XRF9分析儀進行成分辨別無需復雜的化學前處理，是zui快速，經濟的方法。 |
| 主要特點 |
| 1.樣品無損檢測：固體樣品可直接檢測，無需化學前處理。 |
| 技術參數 |
| 儀器系統組成及規格 |
