作為一種快速、準(zhǔn)無(wú)損的分析技術(shù)——XRF熒光光譜儀得到了廣泛的應(yīng)用。為了了解當(dāng)前XRF的使用范圍和新領(lǐng)域的增長(zhǎng)潛力,我們請(qǐng)一些專(zhuān)家對(duì)于XRF的重要的應(yīng)用領(lǐng)域、以及面臨的挑戰(zhàn)、與其他技術(shù)的競(jìng)爭(zhēng)優(yōu)勢(shì)等問(wèn)題進(jìn)行了評(píng)論。
XRF在地質(zhì)相關(guān)領(lǐng)域的應(yīng)用不斷在增長(zhǎng),“地質(zhì)學(xué)家、地質(zhì)工程師、實(shí)驗(yàn)室技術(shù)人員、鉆井地質(zhì)學(xué)家、鉆井液錄入工和地球化學(xué)家都使用XRF,”陶氏化學(xué)的研究科學(xué)家Lora Brehm指出。例如,使用便攜XRF系統(tǒng)配合井下采礦和能源勘探,以及化學(xué)地層研究是進(jìn)行核心掃描。“由于電感耦合等離子體發(fā)射光譜 (ICP-OES)和原子吸收光譜(AAS)需要使用酸分解樣品,以至于不適于現(xiàn)場(chǎng)分析,但XRF*可以,特別是小型化的儀器。”
芝加哥洛約拉大學(xué)副教授Martina Schmeling也表達(dá)了同樣的意見(jiàn),“便攜性和現(xiàn)場(chǎng)易用性顯然是XRF的發(fā)展趨勢(shì),”并稱(chēng)XRF在天然氣勘探等領(lǐng)域也可以應(yīng)用,而且該方法具有非常出色的穩(wěn)定性和易用性。“與質(zhì)譜(MS)方法相比,XRF有很多優(yōu)勢(shì),其中主要的一點(diǎn)是不需要載氣和其他消耗品,”她說(shuō)到。“需要重點(diǎn)記住的一件事是,火星上有XRF,而沒(méi)有ICP-MS。”
華盛頓州立大學(xué)的分析化學(xué)助理教授Ursula Fittschen,從更廣泛的角度看待XRF與其他技術(shù)的競(jìng)爭(zhēng)。他指出,XRF的使用取決于分析物的含量水平和其他因素。“傳統(tǒng)XRF儀器吸引力的是在耐火材料分析等應(yīng)用中具有ppm級(jí)水平,”但是,她指出,對(duì)于ppb級(jí)的微量元素分析, ICP-OES是主力,只要樣品量不受限制、消解又很簡(jiǎn)單。對(duì)于有限的樣本,微觀分析工具如全反射XRF或石墨爐原子吸收光譜可能是一個(gè)更好的選擇。“對(duì)于ppt水平的檢測(cè),需要ICP-MS,”她補(bǔ)充道。
幾個(gè)專(zhuān)家都提到了如鋼鐵行業(yè)的質(zhì)量控制過(guò)程中的應(yīng)用,“鋼鐵產(chǎn)品的精度非常高,波散XRF是必要的,”京都大學(xué)教授Jun Kawai說(shuō),“一臺(tái)有40塊晶體的XRF儀器能夠同時(shí)測(cè)量40個(gè)元素。”
XRF在工業(yè)領(lǐng)域的應(yīng)用不只是用于質(zhì)量控制,CTL集團(tuán)的*科學(xué)家Don Broton指出。“物相鑒定和無(wú)標(biāo)分析的XRF增強(qiáng)了制造工廠迅速評(píng)估替代材料和配方的能力,以及不同制造過(guò)程的副產(chǎn)品,”他說(shuō)。“更好地表征這些‘廢品’使其能夠得到更多的循環(huán)使用,會(huì)加快帶來(lái)一個(gè)綠色的未來(lái)。”
維也納大學(xué)教授Christina Streli表示,“未來(lái),XRF在文物、環(huán)境、醫(yī)學(xué)和其他領(lǐng)域的應(yīng)用價(jià)值,將會(huì)被越來(lái)越多的人看到。”
洛薩拉摩斯實(shí)驗(yàn)室的George Havrilla同意這一觀點(diǎn),并稱(chēng),在文物研究領(lǐng)域XRF已經(jīng)證明了它的價(jià)值。“micro XRF對(duì)藝術(shù)品的快速成像分析將給藝術(shù)起源帶來(lái)新見(jiàn)解,”他說(shuō)。“這些技術(shù)揭示了色素是在不斷降解的,使我們明白,我們今天看到的一些藝術(shù)品的顏色與當(dāng)初藝術(shù)家畫(huà)上去時(shí)是不一樣的。”
Havrilla還指出,光學(xué)鑷子的進(jìn)展使得用XRF能夠檢測(cè)到單個(gè)細(xì)胞的“mechanical manipulation”,進(jìn)而使活體細(xì)胞內(nèi)容物的元素成像成為可能,這可以讓我們對(duì)生物機(jī)制有新的理解。
日本筑波材料科學(xué)研究所教授、團(tuán)體*Kenji Sakurai,也看到了XRF進(jìn)行化學(xué)狀態(tài)分析的進(jìn)展,包括X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(XAFS)和X射線近邊吸收(XANES) 技術(shù)的XRF檢測(cè)在同步加速器中應(yīng)用取得的重要成就。“我相信,在科學(xué)和許多工程領(lǐng)域XRF化學(xué)狀態(tài)分析將帶來(lái)新的機(jī)遇。”
XRF熒光光譜儀產(chǎn)品介紹:
性能特點(diǎn)
下照式:可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求
準(zhǔn)直器和濾光片:多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換,滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用
移動(dòng)平臺(tái):精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái),方便定位測(cè)試點(diǎn)
高分辨率探測(cè)器:提高分析的準(zhǔn)確性
新一代的高壓電源和X光管:性能穩(wěn)定可靠,高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率
技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍從硫(S)到鈾(U)
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99%
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃
電源:交流220V±5V,建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源
能量分辨率:160±5eV
外觀尺寸: 550×416×333mm
樣品腔尺寸:460×298×98mm
重量:45Kg
標(biāo)準(zhǔn)配置
移動(dòng)樣品平臺(tái)
電制冷Si-PIN探測(cè)器
信號(hào)檢測(cè)電子電路
高低壓電源
大功率X光管
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
應(yīng)用領(lǐng)域
RoHS檢測(cè)分析
地礦與合金(銅、不銹鋼等)成分分析
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定
,鉑,銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)