硬盤芯片測試兩箱式冷熱沖擊試驗箱
1.造型設計：圓弧造型及表面噴塑處理，高質(zhì)感外觀，更顯潔凈美觀。
2.箱體內(nèi)膽采用(SUS304)不銹鋼板。
3.箱體外殼采用A3鋼板數(shù)控機床加工成型，造型美觀大方。
4.觀察窗：高溫箱安裝矩形多層中空隔熱玻璃熱玻璃觀察窗一個(300×200mm ).觀察窗上安裝照明燈。
5.本冷熱沖擊試驗箱分為高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分，具之斷熱結構及蓄熱蓄冷效果。
6.可獨立設定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件的功能，并于執(zhí)行冷熱沖擊條件時，可選擇二槽或三槽之功能，具有高低溫試驗箱的功能。
7.試驗時待測物靜止，應用冷風路切換方式導入試品中，做冷熱沖擊測試試驗。
8.保溫材料采用防火和隔熱高密度纖維棉。
9.測試區(qū)內(nèi)附上下可調(diào)不銹鋼盤兩組，便于吊藍上下轉換的隔溫性。
10.樣品架承重量為：(162型、300型20kg)(500型30kg)(010型50kg)。
11.箱體左側配Φ50mm測試孔一個，可供外接測試電源線或信號線使用。
12.冷熱沖擊試驗箱箱體底部加裝高質(zhì)量承載PU活動輪，便于客戶移動設備。
硬盤芯片測試兩箱式冷熱沖擊試驗箱
技術參數(shù)：
1.溫度范圍：-20℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設備總功率：3KW～15KW
制冷優(yōu)點:
10、傳統(tǒng)設備低溫控制方式：
制冷壓縮機啟停控制溫度（溫度波動大、嚴重影響壓縮機壽命，已淘汰的技術）
制冷壓縮機恒定運行+加熱PID 控制（導致制冷量與加熱相抵消實現(xiàn)溫度動態(tài)平衡，浪費了大量的電能）
11、PWM 冷控制技術實現(xiàn)低溫節(jié)能運行：低溫工作狀態(tài)，加熱器不參與工作，通過PWM 技術控制調(diào)節(jié)制冷機組制
冷劑流量和流向，對制冷管道、冷旁通管道、熱旁通管道三向流量調(diào)節(jié)，實現(xiàn)對工作室溫度的自動恒定。此方式在低溫工況下，可實現(xiàn)降低40%的能耗。
