植物葉面積分析

植物葉色比對分檔

植物年輪分析

植物年輪分析

植物根系分析

植物根系分析

西瓜剖面各部位分析

橙子剖面各部位分析

光學分辨率

4800×9600 dpi

分辨率

65535×65535 dpi

拍攝箱

封閉/半封閉式掃描、無直射強光干擾

分析測量面積

分析面積356 mm × 216 mm，如果配合根盤使用分析面積為300 mm × 200 mm

分辨的最小尺寸

0.008 ×0.008 mm

圖像分析測量精度

X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%

長度測量重現性誤差

<±0.25%

面積測量重現性誤差

<±0.25%

臺間測量差異

<±0.25%

測量總時間

30~60秒

軟件功能：

葉片分析

可全自動地大批量分析計算葉面積，并以葉片目標邊緣標記來核對其正確性。可同時分析多張葉片面積，及分析小至1mm2的葉片。葉面積 (可累計面積)、葉片面積（可累計面積)、葉子穿孔面積 (可累計面積)、葉片長度和寬度、葉柄長度、葉周長 (不受葉片孔洞影響)、葉片周長、葉片長寬比、葉片形狀系數、自定義長度和角度測量，葉片鋸齒高度、寬度、數量測量，葉孔面積測量；包膜（齒-齒之間的直線長度和），包膜形成的投影面積；不規則葉片形態分析，真彩的病斑、蟲損面積分析（含2/3以上葉片被嚴重蟲損的蟲損葉面積分析），葉片顏色分檔分析(包括按葉片顏色自動分檔查詢，用于氮肥狀態的外觀評價)。同時分析多片葉時，可得到葉片總面積、周長等參數，也可得到其中每一片葉片的周長、面積等參數。

植物根系分析

植物根系可分析測量：1)根總長；2)根平均直徑；3)根總面積；4)根總體積；5)根尖計數；6)分叉計數；7)交疊計數；8)根直徑等級分布參數；9)根尖段長分布，10）可不等間距地自定義分段直徑，自動測量各直徑段長度、投影面積、表面積、體積 等，及其分布參數；11）能進行根系的顏色分析，確定出根系存活數量，輸出不同顏色根系的直徑、長度、投影面積、表面積、體積。12）能進行根系的拓撲分析，自動確定根的連接數、關系角等，還能單獨地自動分析主根或任意一支側根的長度和分叉數等，可單獨顯示標記根系的任意直徑段相應各參數（分檔數、檔直徑范圍任意可改，可不等間距地自定義），并能進行根的分叉裁剪、合并、連接等修正，修正操作能多步回退，以快速獲得正確的結果。精度：根長≤±1%；面積：優質圖像質量時<1%，標準圖像質量時≤3%。匹配專門的雙光源照明系統，提供高分辨率的彩色或黑白圖像，去除了陰影和不均勻現象的影響，有效保證圖像質量。采用非統計學方法測量計算出交叉重疊部分根系長度等，可讀取TIFF、BMP、JPEG、PNG、PCX標準格式的圖像。可兼做針葉面積、體積測量，以及棉纖維粗細、長度測量。

瓜果剖面分析

瓜果剖面各部位分析：1).可測西瓜的：縱徑、橫徑、果形指數、總面積、皮厚、空心面積、瓤色分檔分析、外周長；2).可測哈密瓜等甜瓜的：縱徑、橫徑、果形指數、截面積、肉厚、外周長、瓤色分檔分析、種腔（縱徑、橫徑、面積）；3).可測蘋果、梨等的：縱徑、橫徑、果形指數、總面積、核心面積、肉色分檔分析、外周長；4).可測柑橘類水果的：縱徑、橫徑、果形指數、總面積、皮厚、肉色分檔分析、外周長。還可分析木材的邊材面積。

植物年輪分析

可自動判讀年輪數、各年輪平均寬度、早材及晚材寬度、各年輪切向角度和面積。可自動劃分出年輪邊界、早材邊界、晚材邊界，以及識別出很窄的樹輪，可交互刪除偽年輪、插入斷年輪，可自動生成分析年表。可以直接分析達到2萬萬像素（2億像素）的超高精度掃描的超大幅面年輪圖像（能分析在3200dpi分辨率下，成像分析430mm×30mm區域的年輪灰度圖像（A3掃描儀），精度遠高于目前常用的1600dpi分辨率）。具有【精細】分析選項，可自動分析出≤0.2mm寬度的年輪，分析獲得的測量數據具備進一步做交叉定年、數據分析處理能力。可計算樹盤總面積。

人工輔助修正

圖像可放大縮小和局部觀察，可實現鼠標區域選擇統計、對污染區的輔助裁剪或橡皮擦修正

統計效果監視

監視和修正植物對象分析的精度

自動雜質剔除

根據尺寸等方面的區別，進行自動雜質剔除

輔助測量功能

尺寸標定：自帶標定功能，實現半自動的尺寸標定，XY向可分別標定修正長度測量：具有跟隨放大鏡功能，通過鼠標拖動精確測量；

數據報表導出

分析結果能導出到Excel表，以便存檔和統計。還可輸出分析標記圖，以便發表論文用