產品概述；
- maxLIGHT pro是一款集成了直接光束分析儀的高性能光譜儀功能。
- 光譜儀和光束分析儀模式之間的自動快速切換可以對光束特性進行驗證。該光譜儀具有從1nm 到200nm的像差校正。
- 通過三個覆蓋范圍1-20nm，5-80nm 和40-200nm 的光柵可以進行寬帶光譜測量。
- 該光譜儀可以在沒有入射狹縫的情況下使用，以在距離光源一定范圍內地收集光。
- 模塊化設計能夠匹配不同的實驗幾何形狀和配置。
- 具有集成的狹縫支架和濾光片插入單元，以及電動光柵定位。
主要特征：
光源直接成像
光源直接成像到檢測器上，不需要狹窄的入射孔；
比標準版本高大約 20 倍以上的光收集和信噪比；
堅固耐用的設計：
設計緊湊，占地面積小；
抗環境干擾，無狹縫設計；
沒有活動部件；
光柵位置監控，用于保持光柵對準。
特殊解決方案：
非磁性儀器
特殊的幾何形狀外殼
電磁脈沖保護
超真空配置
根據需求定制
每臺光譜儀都是經過定制的，以匹配所需的應用，例如：
提供與實驗箱接口
可調整光源距離
根據用戶定義提供濾光片安裝座
Characteristics | maxLIGHT | maxLIGHT plus | maxLIGHT pro |
平場掠入射光譜儀 | ? | ? | ? |
集成光束分析儀 | ? | ||
的無縫設計，高效率 | ? | ? | ? |
探測器可靈活選擇： XUV-CCD或MCP / CCD | ? | ? | ? |
工作壓力<10-6mbar | ? | ? | ? |
可根據用戶需求定制 | ? | ? | ? |
閃耀光柵進一步提高效率 | ? | ? | |
電動閉環三維光柵定位 | ? | ? | |
電動二維光柵定位 | ? | ||
濾光片插入裝置 | ? | ? | |
真空閥門 | ? | ? |
【產品規格參數】
SRX光柵 | XUV光柵 | VUV光柵 | |||||
波長，nm, | 2-20 | 7-80 | 40-200 | ||||
操作模式 | 無狹縫 | 無狹縫 | 無狹縫 | ||||
光源距離，m | 可調 | 可調 | 可調 | ||||
波長，nm | 2-10 | 3-20 | 7-40 | 10-60 | 25-80 | 40-120 | 100-200 |
平面場尺寸，nm | 35 | 45 | 60 | 55 | 50 | 75 | 110 |
色散，nm/mm | 0.2-0.35 | 0.3-0.4 | 0.5-0.65 | 0.7-1.1 | 0.9-1.3 | 0.9-1.3 | 1.2-1.6 |
分辨率，nm | ＜0.015 | ＜0.017 | ＜0.028 | ＜0.045 | ＜0.05 | ＜0.05 | ＜0.07 |
其他配置（光譜范圍，狹縫操作，高分辨率等）可根據要求提供。
樣品測量結果證明了極紫外波段光譜儀的分辨能力。
所顯示的高次諧波光譜是由單個飛秒激光脈沖與固體目標相互作用和隨后的光譜濾波產生的。極紫外光譜儀清楚地解決了生成過程固有的子結構。圖片上半部分：由 X 射線 CCD 相機記錄的原始圖像。 圖片下半部分：通過列合并獲得的諧波頻譜。(Plasma Phys. Control. Fusion 53 (2011)124021)
樣品測量結果證明了信號強度的提高。
在相同的信號強度下，與標準光譜儀（虛線）相比，H + P 光譜儀（實線）的分辨率明顯更高。與標準方法相同的分辨率需要窄縫設置，因此信號強度會顯著下降。H + P 的無狹縫設計可以同時提高分辨率和信號強度。(data courtesy of Prof. C. Hauri, Paul Scherrer Inst.
