◆ 產品名稱:CCD光電性能測試系統
◆ 產品應用:主要用于線、面陣CCD光電相應性能測試。
◆ 產品介紹:本系統能夠解決空間光學遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設計及輻射校正設計及為光電成像
器件受輻照后性能變化的機理研究提供檢測手段等諸多科學問題;同時能夠在業界對光電成像器件抗輻射性能評價
的標準化和規范化起到積極推進作用。
◆ 產品主要測試功能:
1) 飽和輸出電壓(SV)
2) 飽和曝光量(SE);(A光源)
3) 光輻射響應度(燈光照明下的R);輻射照度響應度(A光源)
4) 相對光譜響應度RS;
5) 響應度均勻性(PRNU);
6) 響應度非線性度;
7) 電荷轉移效率(CTE);
8) 光譜和白光傳遞函數(MTF);
9) 暗信號(DS);
10) 暗噪聲(VNOISE);
11) 噪聲等效曝光量(NEE);
12) 動態范圍(DR);
13) 非線性度(NL);
14) 固態圖片噪聲(FPN)。
◆ 產品主要技術指標:
★ 工作光譜波段:380nm~1100nm;
★ 可測量CCD尺寸: 100mm×100mm;
★ 光源均勻性:優于1%;
★ 光源穩定性:優于0.5%/h;
★ 光譜分辨率:<2nm;
★ A/D量化等級:14bit;
★ 動態范圍:80dB;
★ 測量值不確定度:5%;
★ 重復性誤差:2%。