用于激光故障注入的S-LMS顯微鏡站是集成電路安全評估的高精度平臺。它允許將激光點聚焦在芯片上并通過背面掃描樣品,以評估電子元件的安全級別。S-LMS顯微鏡允許注射、聚焦和掃描一個激光點至1米的點大小,同時用紅外攝像機從背面觀察樣品。
980 和/或 1064 nm 的單模激光
脈沖亞納秒到連續波
時間精度 <8 ps
頻率高達 250 MHz
>92% 透射率
同軸紅外視覺
可以由Python控制和驅動
光電發射選項
激光熱刺激選項
esDynamic軟件平臺
單模光纖激光器
| PDM+/PDM+ HP | PDM4+ and PDM4+ HP |
脈沖持續時間 | 從1.5納秒到連續波 | 從1.5納秒到連續波 |
峰值功率 | 高達3.2瓦 | 高達10瓦 |
波長 | 980納米;1064牛米 | 980納米;1064牛米 |
重復率 | 從單發到250兆赫 | 從單發到250兆赫 |
命令接口 | TTL/LVTTL /軟件& dlls | TTL/LVTTL /軟件& dlls |
光束質量 | 單模 | 單模 |
InGaAs 紅外相機
Captor | 640x512 µm |
動態量程 | 140 dB |
接口 | USB(包含軟件) |
電學
電壓 | 220 V/110 V |
電流 | 16 A |
自動位置調節系統
軸數 | 3 |
行程范圍 | 52 mm |
分辨率 | 0.315 µm |
重復性 | +/- 0.8 µm |
速度(max.) | 20 mm/s |
故障注入
光發射
熱刺激