XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀
XF-8100 波長色散X射線熒光光譜儀特點:
* 采用全新的光路設計和光學部件,大幅度提高各元素特征X射線強度(CPS),從而使儀器分析精度得到突破性提高,并且縮短了樣品測定時間。
* 對影響儀器穩定性的主要環節做了實質性改進,從而為顯著提高儀器的穩定性創造了條件。
* 對影響儀器可靠性的主要環節做了全新設計,顯著提高了儀器*連續工作的可靠性。
* 元素譜峰束集電路采用工業控制機內插式高速MCA卡。
* 本儀器為多道同定型WDXRF光譜儀,每個元素一個通道,多數部件可以互換,穩定分析,速度快,真空室小,故障率低。
* 分析元素多(Na~U),分析含量范圍廣ppm~100%;
* 樣品處理相對簡單;
* 試樣形態多樣化(固體、液體、粉末等);
* 可快速分析粉末壓片,玻璃熔片和塊狀物料;非破損分析;
* 采用多路數字MCA實時檢測,不僅便于儀器調試和故障診斷,并可進一步提 高儀器的分析精度和穩定性。
在水泥行業應用:
XF-8100非常適合在大、中、小型水泥廠(單、雙窯)做質量過程控制使用。可用于分析原料(如石灰石、沙土、礬土、菱鎂礦和其他礦物)中主量和次量氧化物的分析;生料、熟料和水泥中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl等常規元素的測定。