對于需要性能和易用性的多用戶實驗室而言，最完整的SEM。

新型Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將各種成像和分析模式與新的自動化相結合，為同類儀器提供最完整的解決方案。

它非常適用于需要高分辨率，樣品靈活性和易于使用的操作界面的工業研發，質量控制和故障分析應用。Prisma E成功獲得了極為成功的Quanta SEM。

出色的成像

多用戶實驗室需要顯微鏡在短時間內生成具有相關數據的高質量圖像。Prisma E采用基于四極管組件的強大成像系統滿足了這一需求，

可在各種光束能量和真空條件下提供出色的結果。在所有這些條件下，地形圖和成像圖都提供必要的樣本信息。通過同步采集，該信息可供隨后進一步解釋和分析。

輕松導航

尋找感興趣的區域甚至找到樣品本身都是一項繁瑣的工作......但不是在Prisma E上。室內導航相機（Nav-Cam）

提供樣品架的詳細照片，使其易于使用一個會話中的多個樣本并逐個導航到它們。在示例中，只需單擊它即可轉到感興趣的區域。

導航凸輪圖像與樣本一起旋轉，因此導航非常直觀。

樣本靈活性

今天的研究超越了傳統金屬和涂層樣品 - 非導電材料，大型或重型樣品，臟樣品甚至濕樣品都需要在微觀尺度上進行研究。

Prisma E具有三種成像模式 - 高真空，低真空和ESEM™ - 適用于任何SEM的泛樣品。此外，Prisma E的腔室適合大樣品，

并配備110x110 mm 5軸電動中心平臺，傾斜范圍為105°，可以從各個角度觀察樣品。

支持分析

Prisma E的分析室支持對元素（EDX，WDS）和晶體學（EBSD）樣品數據的日益增長的需求，

該分析室支持多個EDX檢測器以提高通量并消除陰影效應。此外，分析室支持共面EDX / EBSD和平行光束WDS，

以確保所有技術的定位。得益于Prisma E的原位功能，即使在絕緣或高溫樣品上也能獲得可靠的分析結果。
光子學，地球科學，陶瓷，玻璃和故障分析應用的附加樣品信息來自的可伸縮RGB陰極發光檢測器。