A1525全聚焦相控陣超聲波探傷儀
產品特點:
- 通過INTROVIEW®軟件缺陷可視化
- 超聲測試數據的 3D 成像
- B、C&D-Scan圖像與定量缺陷評估
- 多功能報告功能
- 輕便便攜式相控陣超聲檢測儀
- 使用多元合成孔徑聚焦技術的全聚焦方法
- 配合標準試塊實現半自動空間靈敏度校準
- B、C&D-Scan成像能力
- 單通道探傷儀模式和相控陣模式下的常規 A -Scan視圖
特殊功能:
- 多元合成孔徑聚焦技術/多重反射疊加,實現準確的缺陷可視化和分析
- 配合標準試塊實現半自動靈敏度校準
- 2D 空間靈敏度調整以根據常見的標準發現并評價小缺陷,實現準確定量和定位
- 新型微楔傳感器技術——無楔塊多重反射信號且無偽影
規格參數:
相控陣數據處理技術 | 全對焦方式 |
陣元數/通道數 | 16 |
操作頻率 | 1,0; 1,8; 2,5; 4,0; 5,0; 7,5; 10,0 MHz |
動態范圍 | 100 dB |
顯示分辨率/類型 | 640 x 480 / TFT |
電池操作時間不小于 | 6 h |
尺寸 | 260 х 157 х 43 mm |
重量 | 0.8 kg |
工作溫度范圍 | 從 -10 到 +55 ℃ |
訂貨編號:LR-200575