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XE7經濟型AFM

參考價面議
具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱八帆儀器設備有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/2/18 14:10:59
  • 訪問次數118
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八帆儀器設備(上海)有限公司創建于2017年,是集測試測量、研發、生產、銷售、服務為一體的高科技公司,亞太區總部位于中國上海。并在北京設立辦事處。 八帆儀器設備(上海)有限公司致力于代理和應用進成熟的測試測量儀器及技術,應用于材料,物理,光學,化學,生物等領域。同時與國內外研發機構合作研究開發高精密測試測量技術及設備定制。 有各大國際品牌機構的技術支持,匯集有行業的精英技術團隊,負責產品及方案設計、生產制造、售前售后服務、技術支持和應用培訓等等。公司的業務領域廣泛,但服務宗旨恒一,即不斷的改善管理、堅持服務質量和真誠周到服務。 有廣大用戶的支持,我們相信八帆儀器設備(上海)有限公司一定能不斷為大家提供有高價值的產品。公司的可持續發展來源于不斷增長的職業和專業提升力。我們擁有高效、高素質的專業員工團隊,他們全部畢業于包括清華、復旦、哈工大、北航在內的高校。銷售團隊和技術支持團隊成員平均從業時間10年以上,具有豐富的經驗,相信能夠給您提供優質的解決方案和技術支持。 我們還有一只顧問專家團隊,其中成員來自于包括北京大學,青島海洋大學,荷蘭某世界500強公司等。
XE7經濟型AFM
XE7經濟型AFM 產品信息

XE-7 經濟型原子力顯微鏡

Park XE7配有Park Systems的所有技術,而且價格十分親民。與Park Systems的其他高級型號相比,XE7在細節的設計上也相當用心,是幫助您準時且不超預算地完成研究的理想之選

概述

的高性能

在同級產品中,Park XE7能夠帶來納米級分辨率的測量效果。得益于的原子力顯微鏡架構,即獨立的XY軸和Z軸柔性掃描器,XE7能夠實現平滑、正交且線性的掃描測量,從而精確成像和測量樣品的特征。此外,Park所的True Non-Contact™模式還能為您帶來的圖像效果,探針可以在多次掃描后圖像的分辨率仍不會受影響。

高效且易于使用

Park XE7擁有簡潔的圖形用戶界面和自動化工具,即便是初學者也可以快速地完成對樣品的掃描。無論是預準直探針、簡單的樣品和探針更換、輕松的激光準直、自上而下的同軸視角以及用戶友好型掃描控制和軟件處理,XE7能夠全力推動研究生產力的提高。

兼顧當前需求和未來升級

在Park XE7的幫助下,現在與未來皆在您的掌控中。Park XE7帶有業內最多數量的測量模式。這些模式不僅能滿足您目前的需求,也考慮到未來不斷變化的需求。再者,XE7具有市場上最開源的設計,允許您整合其他附件和儀器,從而滿足您特殊的研究需求。

經濟實用

Park XE7不僅僅是實惠的研究級原子力顯微鏡,也是總體成本的原子力顯微鏡。Park XE7中所搭載的True Non-Contact™模式讓用戶無需頻繁更換昂貴的探針,并且它配有業內最多的掃描模式,兼容性,讓您可隨時升級系統功能,從而延長產品的使用壽命。

技術信息

通過消除串擾進行準確的XY掃描

Park Systems的串擾消除(XE)掃描系統能夠有效解決上述問題。我們使用了二維柔性平臺專門掃描樣品的XY軸位置,并通過壓電疊堆傳動裝置專門掃描探針懸臂的Z軸位置。用于XY軸掃描的柔性平臺采用了固體鋁材,其具有超高的正交性和出色的平面外運動軌跡。柔性平臺可在XY軸掃描大型樣品(1 kg左右),頻率達100 Hz左右。由于XY軸的帶寬要求遠低于Z軸的帶寬要求,因此該掃描速度已然足夠。用于Z軸掃描的壓電疊堆傳動裝置具有大的推拉力和高共振頻率(約10 kHz)。

圖9展示了XE系統(a)和傳統原子力顯微鏡(b)掃描硅片時,未處理的成像圖。由于硅片屬于原子級光滑材料,因此圖像中的彎曲大多數是掃描器所引起的。圖9(c)展示了圖9中(a)(b)圖像的橫截面。由于管式掃描器本身帶有背景曲率,因此當X軸的位置移動15 μm時,平面外移動可達80 nm。而在相同的掃描范圍內,XE掃描系統的平面外移動則不超過1 nm。XE掃描系統的另一大優勢是Z軸伺服回應。圖10是XE掃描系統在無接觸模式下拍下的一個多孔聚合物球體(二乙烯苯)的圖像,其直徑大約為5 µm。由于XE掃描系統的Z軸伺服回應極其精準,探針可以精確地沿著聚合物球體上的大曲率以及小孔平面結構移動,而不會壓碎或粘連在其表面上。圖11是Z軸伺服回應在平坦背景上高性能的表現。

通過通過真正的非接觸™模式獲得最真實的表面形貌

在True Non-Contact™模式中,探針與樣品的距離在相互原子力的控制下,被成功地控制在幾納米之間。探針振動幅度下,大大減少了探針與樣品的接觸,從而完好地保護了探針和樣品。

針尖壽命更長,樣品損壞更少

原子力顯微鏡探針的十分脆弱,這使得它在接觸樣品后會快速變鈍,從而限制原子力顯微鏡的分辨率和圖像的質量。對于材質較軟的樣品,探針會破壞樣品,導致其高度測量不準確。相應地,探針保持完整性意味著顯微鏡可以持續提供高分辨率的精確數據。XE系列原子力顯微鏡的真正非接觸模式能夠極大程度保護探針,從而延長其壽命,并減少對于樣品的破壞。下圖中以1:1的長寬比展示了XE系列原子力顯微鏡掃描淺溝道隔離樣品的未處理圖像,該樣品的深度由掃描電子顯微鏡(SEM)確定。在成像20次之后,探針幾乎有沒任何磨損。

Park XE7特性

  • 二維柔性平板掃描儀,掃描范圍為10 µm x 10 µm

    XY軸掃描器含有對稱的二維柔性和高強度壓電疊堆,可在保持平面外運動最少的情況下,實現高正交運動以及納米級樣品掃描下的高響應度。緊湊且堅固的結構是為了低噪聲高速伺服回應而設計的。
  • 柔性High Force Z掃描儀

    憑借著高強度壓電疊堆和柔性結構,其可以允許掃描器以更高的速度縱向移動,這是傳統原子力顯微鏡中掃描器所無法做到的。Z軸掃描范圍可從標準的12 µm增至40µm(選購遠距離Z軸掃描器)。
  • 滑動鏈接SLD

    燕尾式軌道設計,輕松更換原子力顯微鏡鏡頭。借助超輻射發光二極管(SLD)的低相干性,顯微鏡可精確成像高度反光表面和精密測量pico-Newton力對距光譜。此外,超輻射發光二極管的波長也解決了干擾問題,讓用戶可隨意在可見光譜實驗中使用原子力顯微鏡。
  • 無障礙樣品架

    的鏡頭設計可掃描尺寸為100 mm的樣品,且可輕易從側面更換樣品和探針。
  • 手動XY樣品臺

    在手動XY軸樣品臺的精確控制下,樣品的測量定位變得簡單。XY軸樣品臺的行程范圍是13 mm x 13 mm。
  • 手動光學平臺

    同軸鏡頭可手動調焦。
  • 帶有控制器板中的DSP板的Park XE控制電子設備

    原子力顯微鏡的納米級信號是由高性能的Park XE電子控制器所控制和處理的。憑借著低噪聲設計和高速處理單元,Park XE電子控制器成功實現了True Non-Contact™模式,這是納米級成像和精確電壓電流測量的選擇。
    • 高性能處理單元,頻率達600 MHz,處理速度高達4800 MIPS
    • 低噪聲設計,帶來精確的電流電壓測量
    • 系統,融合各種掃描探針顯微鏡技術
    • 外部信號獲取模塊,獲取原子力顯微鏡輸入/輸出信號
    • 16幅數字圖像
    • 分辨率:4096 × 4096
    • 16位ADC/DAC,頻率為500 kHz
    • 隔離通過TCP/IP連接的電腦電噪聲

掃描模式

支持行業中泛的SPM模式和選項

現如今,研究院需要描述不同測量條件和樣品條件下的各類物理性質。Park Systems帶來業內最多的掃描探針顯微鏡模式、最多的原子力顯微鏡選擇和的兼容性和升級性,讓樣品的表征掃描變得簡單。
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