導波雷達物位計的發展基于一項歷經檢驗的測距技術，該測距技術所采用的測量原理被稱之為時域反射（TDR）原理。
       低強度電磁脈沖以納秒級寬度被發射并沿著剛性或柔性的導體以光速行進，當脈沖接觸到介質表面時被反射。被反射的脈沖強度取決于被測介質的相對介電常數 εr；εr 越大，則反射越強。
       發射脈沖與反射脈沖的時間差的一半對應著從法蘭面到被測介質表面的距離；并且，該時間差被轉換成 4…20 mA 電流和 / 或數字信號。
       粉塵、泡沫、蒸汽、波動的表面、沸騰的表面；被測介質的溫度、壓力或密度的變化都不會影響儀表的正常運行。
 
          輸入        反射的脈沖信號沿纜繩傳遞至儀表電子線路部分，微處理器對此信號進行處理，識別出微波脈沖在物料表面所產生的回波。正確的回波信號由智能軟件完成識別，距離物料表面的距離D與脈沖的時間行程T成正比：
              D=C×T/2
              其中C為光速
              因空罐的距離E已知，則物位L為：L=E-D

         輸出        通過輸入空罐高度E（=零點），滿罐高度F（=滿量程）及一些應用參數來設定，應用參數將自動使儀表適應測量環境。對應于4－20mA輸出。