X'Pert PRO MRD and MRD XL | 成功的薄膜分析標準 | 針對薄膜的研究和生產控制——大到4英寸(MRD)或200mm(MRDXL)的全晶片測試 , 可用C-to-C晶片樣品架自動完成 |
把X射線衍射和散射技術從研究實驗室擴展到日常使用及生產控制可以通過一系列的技術和軟件開發來實現,比如帕納科的超快探測器。
• 帶有直接光學位置靈敏(Direct Optical Position Sensing)的測角儀,是為連續多年的性能而設計的。
• 與CERN和其它技術的探測器物理研究單位共同開發的全固態X射線探測技術。
• PIXcel3D: 世界上的可以進行0維、1維和3維測量的面探測器。
• 一套完整的藝術級的分析軟件包,為了使用簡便而設計,有詳盡的文本和指南的支持。
• 遍布世界的XRD專家網絡,能夠回答您的任何應用問題。