儀器廠(chǎng)商:德國(guó)布魯克公司/Bruker AXS
型號(hào):D8 Discover
到貨日期:2007年6月
技術(shù)指標(biāo):
Cu靶X光管電壓≤50kV、電流≤40mA
測(cè)角儀工作方式:θ/2θ方式
掃描范圍:- 3°~150°
5軸尤拉環(huán)樣品臺(tái)的測(cè)試范圍:
K軸:-10°到91° F軸:±360° X軸:-50mm到+50mm
Y軸:-50mm到+50mm
Z軸:-1.5mm到+2mm
測(cè)角儀精度:0.0001°、準(zhǔn)確度≤0.02°
功能特點(diǎn):
高分辨X射線(xiàn)衍射儀配有Gobel 反射鏡和雙晶單色器,可獲得近平行的入射X射線(xiàn),可以對(duì)單晶、薄膜及納米材料等進(jìn)行精細(xì)的X射線(xiàn)衍射分析。
主要用途:
單晶及單晶外延膜分析、搖擺曲線(xiàn)的測(cè)定及φ掃描、三軸晶衍射測(cè)量(即倒易空間等強(qiáng)度分布圖測(cè)量,Mapping)、薄膜的物相分析、厚度及粗糙度測(cè)量、小角散射測(cè)試。