ICP光譜儀是什么構成的？

一臺典型的ICP光譜儀主要由一個光學平臺和一個檢測系統組成。包括以下幾個主要部分：

1. 入射狹縫: 在入射光的照射下形成光譜儀成像系統的物點。

2. 準直元件: 使狹縫發出的光線變為平行光。該準直元件可以是一獨立的透鏡、反射鏡、或直接集成在色散元件上，如凹面光柵光譜儀中的凹面光柵。

3. 色散元件: 通常采用光柵，使光信號在空間上按波長分散成為多條光束。

4. 聚焦元件: 聚焦色散后的光束，使其在焦平面上形成一系列入射狹縫的像，其中每一像點對應于一特定波長。

5. 探測器陣列：放置于焦平面，用于測量各波長像點的光強度。該探測器陣列可以是CCD陣列或其它種類的光探測器陣列。

ICP光譜儀的來歷

ICP光譜儀在國內的發展也不過幾十年的時間，不可謂短或長。 電感耦合等離子體發射光譜儀（簡稱ICP光譜儀），因為具有高靈敏度，高精密度，低基體效應和具有一起多元素剖析能力等一系列特色，自1975年呈現產品儀器以來，很快在各剖析范疇得到廣泛應用，變成資料、環境、地礦、冶金、食物、化工、生化、產品檢驗及科研范疇通用的無機元素剖析東西。ICP光譜儀的構造和技能也在不斷的改善和發展。1991年新的中階梯光柵固態檢測器ICP-OES儀器面世，即國內所說的全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀。1993年國外出產的該類儀器進入中國市場，目前國內還沒有制造商將全譜直讀電感耦合等離子體發射光譜儀產業化等離子體光譜與其它大型精密儀器一樣，需要在必定的環境下運轉，失掉這些條件，不僅儀器的運用效果欠好，并且改動儀器的檢查功能，乃至形成損壞，縮短壽數。依據光學儀器的特色，對環境溫度和濕度有必定請求。假如溫度改變太大，光學組件受溫度改變的影響就會發作譜線漂移，形成測定數據不穩定，ICP光譜儀通常室溫請求維持在70～75攝氏度間的一個固定溫度，溫度改變應小于±1攝氏度。濕度對高頻發作器的影響也十分重要，濕度過大，輕則等離子體不簡單點著，重則高壓電源及高壓電路放毀組件，如功率管隔直陶瓷電容擊穿，輸出電路阻抗匹配、網絡中的可變電容放電等，以致損壞高頻發作器。ICP光譜儀通常室內濕度應小于百分之70，控制在百分之45～60之間，應有空氣凈化設備。曩昔因為基建施工，我們的環境條件很差，乃至儀器室多次被水淹，受潮及室溫改變過大，儀器不是定位艱難即是常常發作毛病。搬到新的儀器室后條件改善了，儀器運轉就正常多了 以上就是對ICP光譜儀的來歷和一些知識的介紹，希望對大家對認識ICP光譜儀有所幫助。

ICP光譜儀的使用和維護

儀器的供電線路要符合儀器的要求

為了保證ICP光譜儀的安全運行，供電線路必須要有足夠大的容量，否則儀器運行時線路的電壓降過大，影響儀器壽命。作為一臺精密測量儀器，它還需要有相對穩定的電源，供電電壓的變化一般不超過＋百分之5，如超過這個范圍，需要使用自動調壓器或磁飽和穩壓器，不能使用電子穩壓器，由于電子穩壓器在電壓高時產生削波，造成電脈沖，影響電子計算機、微處理器及相敏放大器的工作，引起誤動作。連續正弦波電源才能保證這些電子電路的正常工作，儀器供電線路單獨從供電變壓器的配電盤上得到，盡量不與大電機，大的通風機，空調機，馬弗爐等大的用電設備共用一條供電線路，以免在這些用電設備起動時，供電線路的電壓大幅度的波動，造成儀器工作不穩定。允許電流大于30安培的儀器要單獨接地。一般光譜儀地線電阻要小于5歐姆，計算機地線電阻要小于歐姆（ASTM）標準，以防相互干擾。在ICP光譜儀的使用中，應經常注意電源的變化，不能長期在過壓或欠壓下工作，根據資料介紹，當儀器在過壓下工作會造成高頗發生器功率大管燈絲過度的蒸發和老化，電子管的壽命將會大大的縮短（是正常壽命的五分之～一六分之一）。如果在欠壓下工作，電子管燈絲溫度過低，電子發射不好，也容易造成電子發射材料過早老化，同樣也縮短電子管的壽命；儀器運行中供電電壓的較大波動同樣也會造成高頻發生器輸出功率的不穩定，對測定結果的好壞影響極大，因此，應當注意供電電源的質量。