X射線衍射儀 XRD-7000SL
采用樣品水平型測角儀,操作非常便利。豐富的選配件支持多種多樣的應用。L型可對應口350mm的大型樣品。
x射線發生部:2kW或3kW(CPU控制)·測角儀:日sie d聯動，日5. 日d獨立
·掃描志圖:12°~161(2日1,6°~ 82°(63s),6°~ 132-(日 d)·選配件:
大型R-日樣品臺，多毛細管平行光學系統
Ｘ射線衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進行物質的定性分析、晶格常數確定和應力測定等。并且，可通過峰面積計算進行定量分析。
可通過半高寬、峰形等進行粒徑/結晶度/精細Ｘ射線結構解析等各種分析
配備具有0.0001°較小步進的高精度樣品水平型測角儀。根據分析目的，可以選擇適合分析大型樣品的Ｌ型（較大350mmφ樣品）和通用的S型。
· XRD-7000系列配備了樣品水平型測角儀，能夠測定大型樣品。
· 不但可進行定性/定量等基本分析，還可以應用于殘留奧氏體定量、環境定量、晶格常數的精細化、結晶度的計算、晶體粒徑和晶格應力的計算、晶系確定、Rietveid結構解析軟件進行的晶體結構解析。通過追加附件，還可以應用于應力測定、樣品加熱過程的分析、薄膜樣品測定等。
