性能指標

1. X-射線光源: 采用高強度微聚焦旋轉陽極光源，Cu靶，功率2.5K W，管電壓50kV，管電流50mA
2. 測角儀：四軸（Kappa,ω，2θ，φ）測角儀，?360°旋轉 ≤0.02°步長; ?/2? 步長≤0.002°；角度重現性±0.0001°
3. 探測器：大面積photon II探測器，探測器有效面積14cm×10cm,探測器到樣品的距離馬達自動可調 

主要應用

1. 精確測定小分子無機物、有機物、配合物以及蛋白質大分子等晶態物質的三維空間結構(包括鍵長、鍵角、構型、構象乃至成鍵電子密度)及分子在晶格中的實際排列狀況
2. 可提供晶體的晶胞參數、所屬空間群、晶體分子結構、分子間氫鍵和弱作用的信息以及分子的構型及構象等結構信息。
3. 晶體X-射線衍射數據收集、數據處理（還原、校正）、晶體結構解析、分子圖、分子堆積圖繪制等。 

樣品要求

1. 送檢樣品必須為單晶
2. 晶體要求表面光潔、顏色和透明度一致
3. 單晶表面不附著小晶體，沒有缺損重疊、解理破壞、裂縫等缺陷
4. 晶體長、寬、高的尺寸均為0.1 ~ 0.4mm ，即晶體對角線長度不超過0.5 mm（大晶體可用切割方法取樣，小晶體則要考慮其衍射能力）

儀器說明

1. 本儀器采用當前技術，在化學結晶學領域準確、快速測定晶體結構，區分和確定晶體的手性及空間結構。
2. 可精確地測定小分子無機物、有機物、配合物以及蛋白質大分子等的晶態物質的結構。
3. 儀器包括：面探測器、高精度光學編碼器測角儀、高穩定性的X射線發生器、高強度微聚焦旋轉陽極、計算機控制系統以及控制、數據收集和分析處理、維護等軟件和單晶結構解析軟件。
4. 該儀器可廣泛應用于材料、化學化工、生命、醫藥、環境等各領域。