emic磁場測量的高斯計 磁粉探傷 測磁通密度GMS-103的介紹
emic磁場測量的高斯計 磁粉探傷 測磁通密度GMS-103的介紹
概述
該表面磁場測量儀是用于“JIS Z 2320 磁粉探傷”的高斯計。
由于可以在一次測量中測量測試對象的表面磁通密度（目標表面磁場估計），
有助于縮短測試時間和提高準確性。
特征
●外推磁場估計（配備霍爾元件2ch）
●真有效值交流測量
●電池驅動/手持型
emic磁場測量的高斯計 磁粉探傷 測磁通密度GMS-103的介紹
黑光系列
功耗約為傳統的1/7。紫外線波長
采用355-375納米（nm）LED，
最大中心強度約為 13mW/cm2，因此即使是很小的劃痕也能應對。
此外，還安裝了脈沖模式以優化圖像處理型磁粉探傷。
特征
手持型
與手持式磁粉探傷儀結合使用。
只需將其連接到插座即可使用。
重量輕，不易疲勞。
概述
黑光系列
功耗約為傳統的1/7。紫外波長波長為
采用355-375納米（nm）LED，
最大中心強度約為 13mW/cm2，因此即使是很小的劃痕也能應對。
此外，還安裝了脈沖模式以優化圖像處理型磁粉探傷。
特征
用于較長的長度，例如圓鋼棒和管道
一盞懸垂的黑燈。無風扇且安靜。
由于照射范圍廣，可用于長工件。
具有紫外線強度調節量。
