不管是光滑、粗糙或是平面結(jié)構(gòu),當(dāng)必須測量超出適配鏡頭下的單視場區(qū)域時(shí),都可以采用自動(dòng)拼接,可根據(jù)不同表面特點(diǎn)進(jìn)行重建算法的切換,無論何種形貌,都可生成3D全景。
三維光學(xué)輪廓儀是精度*高的測量儀器之一,中圖的SuperView W1三維光學(xué)輪廓儀的測量精度可以達(dá)到納米級(jí)。分辨率0.1μm,重復(fù)性0.1%,應(yīng)用領(lǐng)域廣泛,操作簡便,可自動(dòng)聚焦測量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù)。
產(chǎn)品參數(shù)
中圖儀器的SuperView W1 三維光學(xué)輪廓儀檢測設(shè)備,以白光干涉技術(shù)原理,通過測量干涉條紋的變化來測量各種精密器件表面的納米級(jí)表面三維形貌,專用于精密零部件之重點(diǎn)部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。
應(yīng)用范例
應(yīng)用范例
SuperView W1三維光學(xué)輪廓儀檢測設(shè)備是一款符合現(xiàn)代工業(yè)數(shù)字化測量需求的檢測儀器,用于對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行亞納米級(jí)測量。對(duì)比現(xiàn)有的接觸式測量方法具有測量速度慢、易劃傷測量表面以及單一的光學(xué)非接觸測量方法難以完成對(duì)大面形或曲率較大的高反射曲面零件三維形貌高精度測量的缺點(diǎn),三維光學(xué)輪廓儀檢測設(shè)備實(shí)現(xiàn)了超精密加工高反射曲面三維形貌的高精度非接觸測量。