主要特點
■ 直接傳動高精度轉矩馬達與優良的光學編碼器相結合,確保了儀器的傳動速度和精度;
■ 全部組件可以拆分為7個模塊,同時可以在5個獨立自由度上檢測樣品,適用于粉末、薄膜和塊狀樣品;
■ 可以進行常規的晶相識別和定量,可以分析晶體尺寸、晶格應變及結晶度的計算;
■ 可以定量分析殘余奧氏體、多晶物篩查、晶體結構分析、殘余應力分析、薄膜分析、深度剖析、相變紋理和優先取向、納米粒子分析;
■ 光學系統可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johansson 或拋面鏡單色器自由切換;
■ 高分辨的反射技術,讓檢測厚度至1-500nm,幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件,從而可以進行薄膜或層次分析;
■ 將拋面鏡單色器與晶體開槽技術有機結合,并安裝在入射光束上,可以獲得高強度、低散射適合高分辨率測量的平行單色光;
■ 強大、簡便的操作軟件使得檢測工作更加簡單,軟件同時具有其他進階功能,可以幫助用戶對復雜的譜圖進行分析。
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EXPLORER多功能X射線衍射儀 產品信息