DIL 402 Expedis Classic - 重新定義熱膨脹儀
耐馳公司新款熱膨脹儀 DIL 402 Expedis Classic 集成了熱膨脹測量領域的技術，為寬廣應用領域內的專業級的應用而設計。DIL Expedis 系列的所有型號均基于的 NanoEye 測量系統，在測量范圍與精度兩方面達到了新的高度。每一納米均納入計算
量程與分辨率的新的
對于傳統的熱膨脹儀，測試量程與分辨率這兩個參數很難兩全：高分辨率只能在很小的量程中實現；如果要得到較大量程，只能犧牲一定的分辨率。

新型自反饋光電位移測量系統 NanoEye 克服了這一技術上的矛盾，能夠同時提供高的分辨率、的線性度與寬廣的量程。
工作原理
在測試過程中，當樣品發生膨脹時，圖中所有的綠色部分將在線性導軌（圖中藍色部分）的引導下向后移動，并由光學測出相應的長度變化。儀器特點DIL 402 Expedis Classic 既可配備為單樣品系統，也可配備為雙樣品/差示系統。儀器為一體化設計，兩個版本的主機均已集成了精確測量熱膨脹所需的所有硬件。既沒有多余的外部電纜，也不需要額外的冷卻水浴。

DIL 402 Expedis Classic - 技術參數
溫度范圍：RT … 1600°C
升溫速率：0.001 50 K/min
測量系統：NanoEye（單樣品，或雙樣品/差示系統）
樣品支架：熔融石英或氧化鋁，可自由更換。
溫度準確度：1 K
溫度精度：0.1 K
m.CTE（平均線膨脹系數）重復性：10-8 1/K
測量范圍：± 5000 μm
分辨率：2 nm（全量程）
樣品長度：0…52mm（自動樣品長度測量）
氣體控制：1 路（標配），或 3 路（選配）
氣氛：惰性，氧化性，靜態/動態
可選配空氣壓縮冷卻系統