英國泰勒霍普森CCI SunStar非接觸式光學輪廓儀
無論對分析速度的要求有多高,我們創(chuàng)新的CCI SunStar非接觸式光學輪廓儀都能為您提供精密的3D表面測量結果。 高分辨率相機與1/10埃垂直分辨率相結合,無論是測量非常粗糙的表面,還是測量極其光滑的表面,都能獲得令人不可思議的詳細分析。
CCI SunStar極大地擴展了分析能力,同時又不至于讓分析程序變得更復雜。 您可以測量各種各樣的元件和表面,不需要進行復雜的測量模式切換,也不會給中間透鏡的校準增加額外的負擔。 通過標準化的方法、程序和,CCI SunStar可輕松地整合到您的質量管理系統中。
- 2048 x 2048像素陣列,視場廣,高分辨率
- 全量程0.1埃的分辨率
- 輕松測量反射率為0.3% - 99%的各種表面
- 自動設置,避免了操作員之間的操作差異
- 多語言版本的64位控制和分析軟件