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| 顆粒粒度測量技術的重大發(fā)展 |
天文學上高靈敏度和高分辨率的成像要求使CCDs得到了最初的發(fā)展。使用麥克公司以CCD為基礎的檢測器，Saturn DigiSizer激光粒度儀在分析過程中可獲得樣品的光散射圖樣Saturn DigiSizer CCD獲得的高清晰度數(shù)字化散射圖樣，包含了形成散射圖案的粒度分布所需的信息。
美國麥克儀器公司的Saturn DigiSizer激光粒度儀應用了CCD以后，就可以不需要使用光學校準機械微調(diào)裝置。該儀器通過重新測繪CCD陣列而自動對齊這樣分配給每個元素的散射角是確切的，相對于中心不超過0.005度，而不是散射光束。Saturn DigiSizer激光粒度儀的CCD陣列對散射角的每五度都有超過130萬個檢測信號。由此產(chǎn)生的高分辨率可檢測散射圖樣的細微差別，因此就能檢測到粒徑分布的細微差別。這些顆粒粒徑上的細微差別顯示了生產(chǎn)過程的差別，有助研究者支持或駁斥理論的研究，或解釋自然過程。簡言之，更高的分辨率意味著能更好的判斷樣品的差異。
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| 高分辨率、準確性、重現(xiàn)性的分析結果 顆粒粒度測量技術在過去的幾十年里得到了長足的發(fā)展，其中一個最重要的貢獻，是在這一領域中應用了激光技術，同時也運用了現(xiàn)代光電探測器和數(shù)字電腦處理技術。一段時間以來，激光散射技術的進展使分析速度更快，但是往往由于檢測器的不足，使所獲得的測量數(shù)據(jù)受到很大的限制。 美國麥克儀器公司認識到需要有更好的檢測能力的檢測器，所以針對性地研發(fā)出了采用激光二極管和一個現(xiàn)代化的電荷耦合器件（CCD）檢測器相結合的激光散射儀器。
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