布魯克Bruker白光干涉光學輪廓儀 Contour X, 滿足微納米表面測量需要
簡介:
•桌面型精巧款式
•采集數據,自動測量,分析和數據后處理,一氣呵成的完備方案
•樣品尺寸:
•150 mm x 150 mm x 92 mm
•承載 4.5 kg
•垂直分辨率: < 0.01nm @ 所有視場下
•橫向分辨:
•0.3µm (±150nm)
•AcuityXR 0.15µm (±75nm)
•基于白光干涉原理,結果可溯源
白光干涉技術內在優勢
垂直分辨率
普適性,易于操作、各種樣品類型與表面
計量
硬件,為性能所做優化
物鏡,為挑戰性測量專門設計
完備的自動化測量系統標準配置
的縫合功能
針對不同應用下,提升效率
ContourX
關鍵好處
高質量計量
作為桌面型輪廓儀
布魯克白光干涉輪廓儀
專為您的應用服務
•從每日測試挑戰到滿足嚴苛要求,可靠的表面計量
•不同應用示例:展示布魯克白光干涉獨到之處
•薄膜與鍍層
•精密加工
•材料研究
•MEMS與傳感器
•光學元器件
•半導體
•摩擦學
薄膜與鍍層:表面粗糙度與厚度,的準確性
表面粗糙度與平整度
滿足您的嚴苛要求
材料研究:表面紋理,揭示最微小的細節
MEMS和傳感器
關鍵尺寸– 質量控制,匹配您的所有需求
關鍵尺寸– 質量控制,完備的自動化組件
光學元器件:全頻譜密度的粗糙度信息
光柵與光學器件,亞微米計量
微型光學形貌表征
缺陷偵測
半導體:質量監控與工藝開發,匹配您的應用需求
質量監控與工藝開發,完備的軟件平臺
關鍵尺寸– 質量控制
完備的自動化組件
摩擦學
表面紋理與磨損體積(速率)
滿足您對準確性的需求