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ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司
  • 品       牌
  • 型       號
  • 所  在  地
  • 廠商性質(zhì)其他
  • 更新時(shí)間2022/11/24 14:24:39
  • 訪問次數(shù)247
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深圳市藍(lán)星宇電子科技有限公司,經(jīng)過十多年的紫外光專業(yè)技術(shù)沉淀,可以根據(jù)客戶特殊要求提供定制化服務(wù),研發(fā)設(shè)計(jì)組裝:紫外臭氧清洗機(jī)(UV清洗機(jī)),準(zhǔn)分子清洗機(jī),等離子清洗機(jī)/去膠機(jī)等科研以及生產(chǎn)設(shè)備,擁有自主品牌及注冊商標(biāo)。 同時(shí)我們代理歐美日多家高科技設(shè)備廠家高性價(jià)比產(chǎn)品, 始終堅(jiān)持創(chuàng)新, 技術(shù), 服務(wù), 誠信的企業(yè)文化,為廣大中國及海外客戶提供的儀器設(shè)備和材料的整體解決方案。 應(yīng)用領(lǐng)域: 半導(dǎo)體/微納,光電/光學(xué), 生命科學(xué)/生物醫(yī)療等領(lǐng)域的研發(fā)和生產(chǎn), 客戶群體例如高等院校, 研究所,科技企業(yè)及醫(yī)療機(jī)構(gòu)等。 半導(dǎo)體/微納,光電/光學(xué) 產(chǎn)品主要有: 德國ParcanNano(Nano analytik)針尖光刻機(jī),電子束光刻機(jī), 激光直寫光刻機(jī),紫外光刻機(jī),微納3D打印機(jī),德國Sentech刻蝕機(jī)/鍍膜機(jī)及原子沉積,英國HHV磁控/電子束/熱蒸發(fā)鍍膜機(jī),微波離子沉積機(jī)MPCVD,芬蘭Picosun原子層沉積機(jī),電子顯微鏡, 德國Bruker布魯克原子力顯微鏡/微納表征/光譜儀, 美國THERMO FISHER賽默飛光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀,美國Sonix超聲波顯微鏡, 德國耐馳Netzsch熱分析儀, 德國Optosol吸收率發(fā)射率檢測儀, 日本SEN UV清洗機(jī)/UV清洗燈,美國Jelight紫外清洗機(jī)/紫外燈管,德國Diener等離子清洗機(jī)等*技術(shù)產(chǎn)品。 生命科學(xué)/生物醫(yī)療 產(chǎn)品主要有:PCR儀,核酸質(zhì)譜儀/核酸檢測儀,電子顯微鏡,紫外設(shè)備,光譜/色譜/質(zhì)譜/波譜儀,生物芯片,試劑,實(shí)驗(yàn)耗材等。 并可依據(jù)客戶需求,研發(fā)定制相關(guān)產(chǎn)品。我們以高性價(jià)比的優(yōu)勢為客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品與服務(wù),為高等院校, 研究所,科技企業(yè)及醫(yī)療機(jī)構(gòu)等客戶提供儀器設(shè)備和材料。
ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀,靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備
ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀 產(chǎn)品信息

ContourX-200 三維光學(xué)輪廓儀

靈活的臺式表面形貌測量設(shè)備

ContourX-200光學(xué)輪廓儀融合了高級表征、可定制選項(xiàng)和易用性,可提供的快速、準(zhǔn)確和可重復(fù)的非接觸式三維表面計(jì)量方法。該設(shè)備作為可用于計(jì)量的小尺寸系統(tǒng),配置了大視場的5百萬像素?cái)z像頭和新型電動XY載物臺,可提供高性能的的2D / 3D高分辨率測量功能。

ContourX-200還配有業(yè)界的操作和分析軟件Vision64®。的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和簡潔的功能,可訪問多種預(yù)編程濾鏡和分析工具,用于精密加工的表面,薄膜,半導(dǎo)體,眼科,醫(yī)療設(shè)備,MEMS和摩擦學(xué)等領(lǐng)域的測量分析。

ContourX-200具有的Z軸分辨率和準(zhǔn)確性,提供了布魯克專有的白光干涉儀(WLI)的所有業(yè)界的優(yōu)點(diǎn),卻沒有傳統(tǒng)共聚焦顯微鏡等產(chǎn)品的局限。

性能表面計(jì)量

。與放大倍率無關(guān)的業(yè)界Z軸分辨率

。尺寸的標(biāo)準(zhǔn)視場

。穩(wěn)定集成防震設(shè)計(jì)

的測量與分析功能

。易于使用的界面,可快速準(zhǔn)確地獲得結(jié)果

。自動化功能用于日常測量和分析

。泛的濾鏡和分析工具選項(xiàng),用于粗糙度和關(guān)鍵尺寸測量分析

。滿足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等標(biāo)準(zhǔn)在內(nèi)的定制化分析報(bào)告

的計(jì)量設(shè)備

基于超過四十年的專有WLI創(chuàng)新,ContourX-200光學(xué)輪廓儀展現(xiàn)出定量計(jì)量所需的低噪聲、高速、高精度的準(zhǔn)確結(jié)果。通過使用多個(gè)鏡頭和集成的特征識別功能,設(shè)備可以在各種視野內(nèi)以亞納米垂直分辨率跟蹤特征,從而提供不受放大倍數(shù)影響的結(jié)果,可用于各種不同行業(yè)中的質(zhì)量控制和過程監(jiān)控應(yīng)用。

ContourX-200對于反射率從0.05%到100%的各種表面都非常易于測量。

面的分析能力

利用強(qiáng)大的VisionXpress和Vision64用戶界面,ContourX-200提供了上千種定制分析參數(shù),以提高實(shí)驗(yàn)室和工廠車間的生產(chǎn)率。系統(tǒng)新攝像頭提供了更大視野,新型電動XY平臺提供了更靈活定位能力,為各種樣品和零件提供了更大的適用性和更高的測試通量。硬件和軟件組合提供了對高可重復(fù)性和高通量計(jì)量學(xué)測量功能的便捷訪問,超過了同類計(jì)量設(shè)備的能力。

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