LAB SPAKR 750C精密火花直讀光譜儀
>> 儀器介紹
廣泛應用于有色行業的生產過程控制,中心實驗室成品檢驗等,可用于Al、Cu、Ni、Co、Mg、Ti、Zn、Pb等多種金屬及其合金樣品分析。可對片狀、塊狀以及棒狀的固體樣品中的非金屬元素(C、P、S、B等)以及金屬元素進行準確定量分析,分析結果準確,分析精度高。儀器日常維護簡單,運行成本低,故障率低。
>> 儀器參數
焦距:750mm
2.譜線范圍:120-800nm
3.高能預火花光源,激發頻率:300-1000Hz
4.帕邢-龍格架構法,真空光學系統
5.光電倍增管檢測器
6.光柵刻線:2400條/mm
7.工作環境:溫度10-40℃ 濕度<80%
8.電源:220V 16A 2.5KVA
9.重量:350Kg
10.儀器尺寸:長105×深85×高120cm
11.整體出射狹縫,預留240條
2.譜線范圍:120-800nm
3.高能預火花光源,激發頻率:300-1000Hz
4.帕邢-龍格架構法,真空光學系統
5.光電倍增管檢測器
6.光柵刻線:2400條/mm
7.工作環境:溫度10-40℃ 濕度<80%
8.電源:220V 16A 2.5KVA
9.重量:350Kg
10.儀器尺寸:長105×深85×高120cm
11.整體出射狹縫,預留240條
>> 儀器特點
◆激發能量、頻率連續可調全數字固態光源,適應各種不同材料
◆原位單次放電采集的技術(SDA)有效提高分析精度
◆可變延時積分技術,大大降低背景干擾
◆高精度光電倍增管負高壓獨立供電連續可調技術,調整更精確,可程序調整,提高 動態范圍
◆單板式透鏡架,擦拭時大大降低對光室的污染
◆基于ARM9的儀器狀態實時監控系統
◆USB采集,通用性更強
◆固態吸附阱,防止油氣對光室的污染,提高長期運行穩定性
◆綠光背景燈,加快響應速度,提高短期分析精度
◆原位單次放電采集的技術(SDA)有效提高分析精度
◆可變延時積分技術,大大降低背景干擾
◆高精度光電倍增管負高壓獨立供電連續可調技術,調整更精確,可程序調整,提高 動態范圍
◆單板式透鏡架,擦拭時大大降低對光室的污染
◆基于ARM9的儀器狀態實時監控系統
◆USB采集,通用性更強
◆固態吸附阱,防止油氣對光室的污染,提高長期運行穩定性
◆綠光背景燈,加快響應速度,提高短期分析精度