NY-406DR低對比度細節檢測模體
產品簡介
用于拍片、數字X射線成像系統和透視系統檢測。可以檢測光野/射野一致性、空間分辨力、低對比度分辨力、動態范圍和圖像一致性等項目。
主要技術參數:
1、模體功能外形尺寸300x300x18.5mm
2、基板厚度1.5mm,300x300mm
3、空間分辨力0.6-5.0Lp/mm,0.1mmPb
4、低對比度分辨力12個內徑10mm圓孔,范圍0.5-7.6%,精度0.01mm動態范圍17個銅階,范圍1/16-16精度0.01mm影像均勻性15x15mm正方形采樣區13個,精度0.005mm
5、確定輻射野大小和位置的標記
NY-406DR低對比度細節檢測模體
產品簡介
用于拍片、數字X射線成像系統和透視系統檢測。可以檢測光野/射野一致性、空間分辨力、低對比度分辨力、動態范圍和圖像一致性等項目。
主要技術參數:
1、模體功能外形尺寸300x300x18.5mm
2、基板厚度1.5mm,300x300mm
3、空間分辨力0.6-5.0Lp/mm,0.1mmPb
4、低對比度分辨力12個內徑10mm圓孔,范圍0.5-7.6%,精度0.01mm動態范圍17個銅階,范圍1/16-16精度0.01mm影像均勻性15x15mm正方形采樣區13個,精度0.005mm
5、確定輻射野大小和位置的標記