LINSEIS DIL L74 (加熱顯微鏡）光學(xué)法熱膨脹儀的提供實(shí)時(shí)成像分析。以高達(dá)每秒10s點(diǎn)的數(shù)據(jù)采樣速率在大視場（10mm x 14mm）上將細(xì)節(jié)分解為微米級。DIL L74HM強(qiáng)大的功能實(shí)現(xiàn)了燒結(jié)收縮、蠕變、熔化行為、體積變化和接觸角的實(shí)時(shí)測量。現(xiàn)在具有氣體處理能力的真空密封設(shè)計(jì)可在寬溫度范圍（-150至2000°C）上解決新的應(yīng)用領(lǐng)域問題。
??LINSEIS評估軟件自動(dòng)評估視頻及圖像，包括自動(dòng)確定潤濕/接觸角和粘度溫度點(diǎn)。符合標(biāo)準(zhǔn)：DIN51730、ISO540或CEN/TS 15404。
加熱顯微鏡的主要優(yōu)點(diǎn)
- 非接觸式膨脹測量
- 可測固體的CTE與熔體的體積變化
- 可在多種環(huán)境下工作
- 溫度范圍從-150°C到2000°C
- 自動(dòng)評估相關(guān)溫度點(diǎn)
- 實(shí)時(shí)視頻和圖像錄制
- 適用于CTE和光學(xué)顯微鏡的光學(xué)優(yōu)化套件（單獨(dú)或組合）
技術(shù)參數(shù)
| 型號 | L74 heating microscope |
| 光學(xué)測量系統(tǒng) | 配備高分辨率相機(jī)和全自動(dòng)對角的加熱顯微鏡 |
| 溫度范圍 | -100°C至500°C |
| 測量系統(tǒng) | 光學(xué)非接觸 |
| 精度 | 1μm |
| 視場 | 10 x 14 mm |
| 氣氛 | 惰性，還原，氧化，真空（可選） |
| 真空度 | 10 E-5 mbar |
| 加熱速率 | 0.01 至100 ℃/min（取決于爐體） |
| 標(biāo)準(zhǔn) | ASTM D1857, CEN/TR 15404,BS 1016:Part 15, CEN/TS 15370-1, DIN 51730, IS 12891, ISO 540, NF M03-048 |
| 形態(tài)測量 | 高度、寬度、接觸角、高寬比、面積、圓度，用戶也可以自由選擇 |
| 接口 | USB |
一般特點(diǎn)
- 文本編輯
- 斷電保護(hù)
- 熱電偶破損保護(hù)
- 重復(fù)測量可少的輸入?yún)?shù)
- 實(shí)時(shí)測試評估
- 測量曲線比較：多達(dá)32條曲線
- 評估結(jié)果保存及導(dǎo)出
- ASCII數(shù)據(jù)導(dǎo)入與導(dǎo)出
- 數(shù)據(jù)生成到MS Excel
- 多種方法分析（DSC TG 、TMA、DIL等）
- 一階/二階求導(dǎo)
- 氣氛程序控制
- 統(tǒng)計(jì)評估
- 自由調(diào)節(jié)坐標(biāo)軸
DIL-特點(diǎn)
- 玻璃轉(zhuǎn)變點(diǎn)及軟化點(diǎn)評估
- 軟化點(diǎn)判定及系統(tǒng)保護(hù)
- 顯示相對/收縮或膨脹曲線
- 顯示和計(jì)算工程/物理膨脹系數(shù)
- 燒結(jié)率控制（RCS）軟件
- 燒結(jié)過程分析
- 半自動(dòng)分析功能
- 多系統(tǒng)校正功能
- 自動(dòng)歸零
- 軟件自動(dòng)控制調(diào)節(jié)樣品壓力
