公司介紹：
NTT-AT有著多年的X射線、極紫外光學(xué)配件的研發(fā)與銷售經(jīng)驗。在范圍內(nèi)，通過與眾多來自同步輻射科學(xué)，阿秒科學(xué)，高強度物理學(xué)等領(lǐng)域的科學(xué)研究者開展緊密合作，積累了大量*的設(shè)計與制造技術(shù)，其產(chǎn)品在業(yè)內(nèi)享有很高的評價。NTT-AT提供的菲涅爾波帶片有著高分辨率，高聚光效率等特點，適合被各種輻射光設(shè)施使用。另外，分辨率測試卡被當(dāng)作業(yè)界的標(biāo)準(zhǔn)。不只是學(xué)術(shù)研究，在X射線的檢查裝置開發(fā)現(xiàn)場也被廣泛使用。XUV鏡片，XUV濾波片不僅對阿秒科學(xué)有著幫助，對下一代的光刻研究也有這重要作用。NTT-AT將在XUV,EUV, X線領(lǐng)域給予客戶在研發(fā)上的幫助。
產(chǎn)品介紹：
NTT-AT是世界上少數(shù)能夠提供SiC膜的供應(yīng)商之一。與SiN膜相比，SiC多晶膜在X射線和電子束照射下具有更優(yōu)秀的耐久性。我們的SiC膜和SiN膜在基礎(chǔ)研究和工業(yè)領(lǐng)域，常被用作樣品夾具，液體池和真空窗口。
標(biāo)準(zhǔn)款：
材料 | 型號 | 芯片尺寸(mm) | 厚度(mm) | 膜尺寸(mm) | 厚度(nm) |
SiN | MEM-N03001/7.5M | 7.5 × 7.5 | 0.625 | 3 × 3 | 100 |
SiN | MEM-N02001/10M | 10 × 10 | 0.625 | 2 × 2 | 100 |
SiN | MEM-N03002/7.5M | 7.5 × 7.5 | 0.625 | 3 × 3 | 200 |
SiN | MEM-N03002/10M | 10 × 10 | 0.625 | 3 × 3 | 200 |
SiN | MEM-N020027/10M | 10 × 10 | 0.625 | 2 × 2 | 270 |
SiN | MEM-N0302/10M | 10 × 10 | 0.625 | 3 × 3 | 2,000 |
SiN | MEM-N0301/10M | 10 × 10 | 0.625 | 3 × 3 | 1,000 |
SiC | MEM-C03003/10M | 10 × 10 | 0.625 | 3 × 3 | 300 |
SiC | MEM-C0301/10M | 10 × 10 | 0.625 | 3 × 3 | 1,000 |
