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布魯克 D8 達芬奇 X射線衍射儀

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  • 公司名稱上海繪吉電子科技有限公司
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  • 廠商性質其他
  • 更新時間2022/7/7 15:50:22
  • 訪問次數246
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上海繪吉電子科技有限公司主要代理歐、美、日及進科學儀器、工業質檢儀器及相關消耗品,專業涉及高校、新能源、鋼鐵行業、科研研究及輕工化工、在國內特別是華東地區具有廣泛的客戶基礎和良好的商業信譽。經過幾年的發展,繪吉公司已經在同行業中確立了多方面的好的地位,無論在公司規模、人員素質、經營品種、銷售能力和售后服務等各方面獲得了同行及用戶的廣泛認可。 上海繪吉電子科技有限公司從事分析類儀器(熒光光譜儀,質譜儀,粒度儀,真空系列等分析類設備),電池材料制備設備,實驗室儀器,理化分析類儀器,微生物儀器,生理儀器及實驗室耗材。。上海繪吉電子科技有限公司從事分析類儀器(熒光光譜儀,質譜儀,粒度儀等分析類設備),德國普發真空設備,電池材料制備設備,實驗室儀器,理化分析類儀器,微生物儀器,生理儀器及實驗室耗材。上海繪吉-德國普發真空Pfeiffer Vacuum-作的真空技術解決方案的供應商之一。我們不僅擁有全系列的混合軸承及全磁懸浮渦輪分子泵, 同時還擁有各種旋片泵,干泵,羅茨泵,氦氣質譜檢漏儀,真空規,四級質譜儀等產品以及真空管件和綜合真空系統。 從普發1958年發明渦輪分子泵至今, 我們在分析、研發、鍍膜、太陽能、半導體和其他工業領域,始終代表著創新的解決方案、高品質、穩定可靠的產品和的服務。公司自1890年創立至今百余年,現有將近2300名員工,20多家分公司遍布,并且在德國、法國、羅馬尼亞、韓國設有生產制造基地。隨著中國綜合國力的提升,產業結構升級,以及對節能減排,科研和高精尖制造工藝的強烈需求,對真空技術的需求也在不斷的提升。作為德國 Pfeiffer Vacuum GmbH 的全資子公司,普發真空技術上海有限公司 Pfeiffer Vacuum (Shanghai) Co., Ltd. 于 2007 年正式入駐中國上海,標志著普發真空在中國的業務已經初具規模,以及公司對中國持續增長的信心。公司現坐落于上海市浦東新區世紀公園附近,并且在江蘇無錫建有 4000m2 的售后服務工廠。上海繪吉電子科技有限公司獲得深圳科晶智達科技有限公司一級代理權,科晶為研究新一代可充電電池,超級電容器與快速儲能材料提供最完整的成套解決方案。方案定位于鋰電池的研究市場,主要為大專院校、科研院所以及生產企業提供實驗室用的小型混壓設備和機械加工與測試等一系列產品,提供研發環節所需的電池能源材料制備相關設備產品與成套實驗室方案:“混料-燒料-分析-涂層-成型-封裝-測試”設備:球磨機、高溫高壓爐、材料分析儀、涂層機、軋機、切片機、封裝機、電池分析儀等。上海繪吉電子科技有限公司成功和進口公司合作。德國普發真空設備,德國布魯克儀器有限公司,分析儀器有限公司,美國PE公司,美國熱電儀器有限公司,天美科技有限公司,島津,萊卡儀器,日本horriba,梅特勒等進口公司
激光拉曼光譜,分子熒光光譜,激光粒度儀
布魯克 D8 達芬奇 X射線衍射儀
布魯克 D8 達芬奇 X射線衍射儀 產品信息

布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀,采用創造性的達芬奇設計,通過TWIN-TWIN光路設計,成功實現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動切換,而無需對光。通過革命性的TWIST TUBE技術,使用戶可以在1分鐘內完成從線光源應用(常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR)到點光源應用(織構、應力、微區)的切換,讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史!

        高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個衍射峰(注意不是一個衍射峰)的測量峰位和標準峰位的誤差不超過0.01度,布魯克AXS公司提供保證!

       *的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍,不僅答復提高設備的使用效率, 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。



技術指標:                                                

Theta/theta 立式測角儀                               

2Theta角度范圍:-110~168°

角度精度:0.0001度                     

Cr/Co/Cu靶,標準尺寸光管                  

探測器:林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器                  

 儀器尺寸:1868x1300x1135mm                            

重量:770kg                                               


應用

物相定性分析

結晶度及非晶相含量分析

結構精修及解析

物相定量分析

點陣參數精確測量

無標樣定量分析

微觀應變分析

晶粒尺寸分析

原位分析

殘余應力

低角度介孔材料測量

織構及ODF分析

薄膜掠入射

薄膜反射率測量

小角散射

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