超聲波探傷儀 TOFD探頭技術以一發一收的方式安放一對探頭，通常為縱波探頭，縱波的反射角范圍是45°至70°。通過接收探頭接收衍射信號，并使用可以生成B掃描圖像的超聲波圖像系統進行評判。
超聲波探傷儀 TOFD探頭技術應用中可以使用單一探頭，但并不推薦這樣使用，因為使用單探頭時返回探頭的衍射波信號很可能被缺陷的反射波掩蓋，導致單探頭系統對端點衍射信號接收存在不確定性。使用兩個探頭配對組成一發一收的雙探頭系統，則可以避免鏡面反射信號對衍射波信號的干擾，從而在任何情況下都能很好的接收到缺陷端點衍射波的信號。另外還容易實現大范圍的掃查，快速接收大量的信號。因此，雙探頭掃查系統可以說是TOFD技術的基本配置和特征之一。
TOFD探頭配合相應的楔塊可在鋼等被檢材料中產生需要的折射縱波，利用這些縱波通過衍射時差技術對材料中的裂紋等缺陷進行定位和定量檢測。探頭采用高性能復合材料制作，-20dB的脈沖周期嚴格控制在兩個周期內，頻率范圍覆蓋2.0MHz到15MHz，晶片尺寸從直徑14mm到直徑3mm不等。同時提供各種非常規規格的TOFD探頭定制，以適應客戶不同的匹配楔塊材料，螺紋配合以及尺寸大小等特殊要求。
TOFD探頭配合相應的楔塊可在鋼等被檢材料中產生需要的折射縱波，利用這些縱波通過衍射時差技術對材料中的裂紋等缺陷進行定位和定量檢測。探頭采用高性能復合材料制作，-20dB的脈沖周期嚴格控制在兩個周期內，頻率范圍覆蓋2.0MHz到15MHz，晶片尺寸從直徑14mm到直徑3mm不等。同時提供各種非常規規格的TOFD探頭定制，以適應客戶不同的匹配楔塊材料，螺紋配合以及尺寸大小等特殊要求。
