J200激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）可配置為提供不同的激光燒蝕環境，可為每種分析情況提供*且合適的解決方案，可確保我們的客戶的LIBS測量準確且可重復，使用J200 LIBS儀器進行可重現的測量以實現可靠的質量控制，ASI技術確保準確性和可重復性達到提高LIBS數據精度的關鍵儀器要求之一是始終如一的激光聚焦到樣品表面，優化的等離子光收集J200 LIBS采用*的聚光光學設計，可將等離子光耦合到檢測器模塊，此功能可實現合適的靈敏度以及性能。
設備應用范圍：
1、LIBS對半導體引線框架上的薄焊料鍍層進行快速鉛（Pb）分析；
2、激光誘導擊穿光譜法（LIBS）快速分析采礦樣品；
3、激光誘導擊穿光譜法（LIBS）對鋼進行定量分析；
4、激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）進行植物分析；
5、激光誘導擊穿光譜法（LIBS）進行氟分析；
6、J200 LIBS儀器對紅寶石-沸石中的寶石進行化學成像。
注意事項：
1、設備是屬于精密型的儀器，在運輸方面要輕拿輕放，防止發生碰撞現象；
2、設備在使用的過程中，要放置在平穩的地方，才能測試的準；
3、每次使用完要用干布子進行擦拭，不可用水直接沖洗。
J200激光誘導擊穿光譜儀（LIBS）專為處理痕量元素分析而設計-那些需要高靈敏度和準確性的分析，從而使我們的客戶能夠進行高度創新的LIBS研究，J200 LIBS儀器非常適合實驗室分析和生產監控應用。該儀器能夠監測具有分析意義的單個或多個元素，ASI專有的化學計量軟件利用一組高度復雜的統計算法為我們的LIBS儀器增加了材料鑒別能力，固態鋰離子電池裝置深度剖面的激光誘導擊穿光譜分析（LIBS），激光誘導擊穿光譜法（LIBS）鑒別油漆樣品，使用激光誘導擊穿光譜法（LIBS）進行氟分析。
