CT-COMPACT nano，X射線顯微鏡超高分辨率可到達亞微米級，強大的功能性可以提供原位/4D 解決方案。與傳統的層析成像相比，CT-COMPACT nano納米分辨率不受樣本大小的限制，實現0.4μm的超高分辨率，適用于材料科學、半導體、石油、天然氣、生命科學等領域。
CT-COMPACT nano是以復雜并且容易改變的目標來運作。無匹配的系統架構與典型的ProCon X-Ray設計相結合，為您提供了一個方便、高效的系統。通過亞微米分辨率和優異的對比度實現高品質的掃描結果。
X射線顯微鏡特征
·操作簡便
·非接觸式計量
·興趣量 - 掃描
·質量控制獨立于材料
·缺陷識別（空洞，裂縫......）
·不同的重建算法過濾反投影，代數，統計
·多個掃描軌跡Circular，Helix，Planar等等
·許多掃描軌跡的視野擴展
·體積縮放（Hounsfield）
·環形偽像抑制和降噪算法
·光束硬化校正和金屬偽影減少
·用于漂移補償的抖動校正
·相位和暗場對比度選項
·用于編寫腳本的Matlab / Python / Labview界面
·批處理和掃描計劃
·時間分辨CT掃描（4D CT）
·原位選項
·實時CT重建
·使用Flat- panel探測器快速掃描<10秒
·“Industriepreis 2018” - 獲獎者
