VERTEX 80/80v FT-IR 光譜儀采用布魯克真正的動態準直的UltraScan™干涉儀，結合高精確、真正無摩擦的空氣軸承和高精度的光學系統，全新的VERTEX 80系列光譜儀具有zui高的精度、*的穩定性和zui高的靈敏度。VERTEX 80V采用真空光學平臺，*消除對空氣、水分的對于測試的影響，尤其適合高分辨、快速掃描、步進掃描、紫外波段高階應用。
VERTEX 80/80v FT-IR 光譜儀使得系統既有*的靈活性又有的性能。布魯克公司的DigiTect™的數字技術能有效避免了外部的信號干擾，保證了儀器zui高信噪比。儀器可以配置多個檢測器，且用戶可自行更換。兩個外接檢測器接口可安裝大體積的檢測器如bolometer檢測器和熱電子檢測器( hot electron)。外接水冷Hg-arc光源，在遠紅外區域能量輸出高，即使用室溫DTGS檢測器，也能得到高質量的譜圖結果。
*光譜范圍擴展能力
VERTEX 80系列光譜范圍可從 遠紅外(Terehertz)、中紅外、近紅外、可見光、一直擴展到紫外波段。預準直光學組件、動態準直UltraScan™干涉儀，使得光譜范圍擴展十分簡便，無需任何調整。
高分辨率
VERTEX 80系列標準配置的切趾分辨率是優于0.2cm-1。對于高分辨率的應用實驗，如低溫測量、半導體材料結晶或低壓氣體測量，系統可選配優于0.07 cm-1 的高分辨率，這也是臺式紅外光譜儀可以達到的zui高分辨率。VERTEX 80系列可全波段實現高分辨率，如可見光范圍，系統的分辨能力優于300,000:1.的（波數v/分辨率?ν）。
