分光密度儀CM-2600D
>>產品簡介
CM-2600D分光密度儀可同時測定SCI(包含鏡面反射光)包(消除鏡面反射光)技術*的數字化光澤控制。 僅用1.5秒即可同時完成SCI與SCE的測定,并通過液晶面板顯示SCI/SCE數據,再也不必進行頻繁的機械式的SCI/SCE切換,不僅提高了作業效率,避免了測定時的位置偏移而得到準確、穩定的測定數據。
>>技術參數
1.照明 / 受光光學系統:d/8 (擴散照明,8°方向受光) SCI/SCE同時測定 (無機械切換)
(根據DIN 5033 第七部份、JIS Z 8722的條件C、ISO 7724/1、CIE 、ASTM E1164)
2.積分球尺寸:Ø52mm
3.分光方法:平面回折光柵
4.測定波長范圍:360nm至740nm
5.測定波長:間隔10nm
6.半值寬度:約10nm
7.反射率測定范圍 0至175%、顯示分解能力;0.01%
8.測定用光源:脈沖氙弧燈3個
9.測定時間:約1.5秒 (熒光測定時:約2秒)
10.小可測間隔SCI/SCE測定時間3秒 (熒光測定時:約4秒)
11.測定直徑 / 照明直徑MAV:Ø8mm / Ø11mm
12.觀測光源:A、C、D50、D65、F2、F6、F7、F8、F10、F11、F12
>>華測實力
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